-
-
Нізкая цана праз Factory-Direct
Працуйце непасрэдна з фабрыкай электронікі, каб пазбавіцца ад пасярэднікаў. Новы арыгінал па нізкай і зніжанай цане
-
Бяспечная і якасная надзейнасць
Сістэма страхавання якасці для цудоўнай якасці прадукцыі. Своечасовае, кожны раз прадастаўленне якасных кампанентаў.
-
Больш за 15 мільёнаў запасаў
Больш за 100 найбуйнейшых сусветных вытворцаў, больш за 15 мільёнаў запасаў. Даступныя запасы, якія можна набыць непасрэдна са зніжкай.
-
Дружалюбнае абслугоўванне кліентаў
Універсальнае рашэнне, адаптаванае да вашых унікальных патрабаванняў. Падтрымка вэб-сайта на 12 мовах, больш зручнасці і хуткасці паслуг.
SN74BCT8374ADW
Вытворца
Катэгорыя прадукту
Апісанне
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Электронны ліст для запыту прапаноў: [email protected] or Запыты онлайн
Тэхнічныя характарыстыкі
-
серыял74BCT
-
пакетTube
-
статус часткіActive
-
лагічны тыпScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
-
напружанне харчавання4.5V ~ 5.5V
-
колькасць біт8
-
Працоўная тэмпература0°C ~ 70°C
-
тып мантажуSurface Mount
-
пакет / чахол24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
-
пакет прылады пастаўшчыка24-SOIC
