-
-
Нізкая цана праз Factory-Direct
Працуйце непасрэдна з фабрыкай электронікі, каб пазбавіцца ад пасярэднікаў. Новы арыгінал па нізкай і зніжанай цане
-
Бяспечная і якасная надзейнасць
Сістэма страхавання якасці для цудоўнай якасці прадукцыі. Своечасовае, кожны раз прадастаўленне якасных кампанентаў.
-
Больш за 15 мільёнаў запасаў
Больш за 100 найбуйнейшых сусветных вытворцаў, больш за 15 мільёнаў запасаў. Даступныя запасы, якія можна набыць непасрэдна са зніжкай.
-
Дружалюбнае абслугоўванне кліентаў
Універсальнае рашэнне, адаптаванае да вашых унікальных патрабаванняў. Падтрымка вэб-сайта на 12 мовах, больш зручнасці і хуткасці паслуг.
SN74LVTH18646APM
Вытворца
Катэгорыя прадукту
Апісанне
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Электронны ліст для запыту прапаноў: [email protected] or Запыты онлайн
Тэхнічныя характарыстыкі
-
серыял74LVTH
-
пакетTray
-
статус часткіActive
-
лагічны тыпABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
-
напружанне харчавання2.7V ~ 3.6V
-
колькасць біт18
-
Працоўная тэмпература-40°C ~ 85°C
-
тып мантажуSurface Mount
-
пакет / чахол64-LQFP
-
пакет прылады пастаўшчыка64-LQFP (10x10)
